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論文

中性子回折法による無ひずみ状態の格子面間隔測定に関する測定技術の開発

皆川 宣明; 斎藤 徹; 森井 幸生; 佐々木 敏彦*; 広瀬 幸雄*

日本材料学会第36回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集, p.253 - 258, 2000/09

中性子回折法による残留応力測定では格子面間隔の変化($$Delta$$d=d-d$$_{0}$$)を回折角の変化$$Deltatheta$$から三軸方向のひずみを測定することによって残留応力値を求める。したがって、材料の無ひずみ状態時の格子面間隔d$$_{0}$$を知ることが重要である。これまではd$$_{0}$$の測定に関して粉末材を用いてd$$_{0}$$を測定していた。しかし、アルミ合金等を粉末状態にするには時間と労力がかなり必要となる。そこで、本研究ではd-d$$_{0}$$を測定するためにランダム回転に近い形態で試料を回転させて得られるd$$_{AVe}$$をd$$_{0}$$として用いる簡便な方法を開発した。この方法によつて得られる格子面間隔と粉末法によって得られる値とを比較し、ほぼ同じような結果を得ることができたので報告する。

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